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可控硅損壞的原因是什么,維修方法是什么?

發(fā)布時(shí)間: 2022-05-13 17:08:53    人氣:320 次

  可控硅(可控硅整流器)是一種大功率電氣元件,也叫晶閘管。它具有體積小、效率高、壽命長(zhǎng)的優(yōu)點(diǎn)。在自動(dòng)控制系統(tǒng)中,它可以作為大功率驅(qū)動(dòng)裝置,用小功率控制器控制大功率設(shè)備。它已廣泛應(yīng)用于交流/DC電機(jī)調(diào)速系統(tǒng)、功率調(diào)節(jié)系統(tǒng)和伺服系統(tǒng)。

  可控硅可分為單向可控硅和雙向可控硅。雙向可控硅也叫三端雙向可控硅,簡(jiǎn)稱TRIAC。雙向可控硅在結(jié)構(gòu)上相當(dāng)于兩個(gè)單向可控硅反向連接,這個(gè)可控硅具有雙向?qū)üδ堋i_關(guān)狀態(tài)由控制電jig決定..向控制電jiG添加正脈沖(或負(fù)脈沖)可以使其正向(或反向)導(dǎo)電。該器件具有控制電路簡(jiǎn)單、無反向耐壓?jiǎn)栴}等優(yōu)點(diǎn),特別適用于交流無觸點(diǎn)開關(guān)。

 

  一、可控硅錯(cuò)誤的原因

  1.電壓擊穿

  可控硅因?yàn)槌惺懿涣穗妷憾鴵p壞。它的芯片上有一個(gè)光滑的洞,有時(shí)需要放大的鏡子才能看到。原因可能是管道本身的壓降或者電路斷開時(shí)產(chǎn)生的高壓擊穿。

  2.當(dāng)前損壞

  電流損壞的痕跡是芯片被燒成了一個(gè)坑,坑很粗糙,位置離控制電ji很遠(yuǎn)。

  3.目前的上升速度受到損害

  其痕跡與電流損傷相同,位置在控制電ji附近或控制電ji上。

  4.邊緣損傷

  它出現(xiàn)在切屑外圓的倒角處,帶有光滑的小孔。用放大鏡可以看到倒角面上細(xì)小的金屬劃痕。這是廠家安裝不小心造成的。會(huì)導(dǎo)致電壓擊穿。

 

  二、如何保護(hù)可控硅不被損壞

  1.過電壓保護(hù)

  晶閘管對(duì)過壓非常敏感,當(dāng)直流電壓超過其關(guān)態(tài)重復(fù)峰值電壓UDRM一定值時(shí),晶閘管會(huì)產(chǎn)生誤導(dǎo)向,導(dǎo)致電路故障;當(dāng)施加的反向電壓超過其反向重復(fù)峰值電壓URRM一定值時(shí),晶閘管將立即損壞。因此,有必要研究過電壓產(chǎn)生的原因和yizhi過電壓的方法。

  過電壓主要是由于供給的電功率或系統(tǒng)的儲(chǔ)能發(fā)生劇烈變化,使系統(tǒng)來不及轉(zhuǎn)換,或系統(tǒng)中原本積累的電磁能量來不及耗散。主要發(fā)現(xiàn)有兩種:雷擊等外部沖擊引起的過電壓和開關(guān)分合閘引起的沖擊電壓。雷擊或高壓斷路器動(dòng)作產(chǎn)生的過電壓是幾微秒到幾毫秒的電壓尖峰,對(duì)晶閘管來說是非常危險(xiǎn)的。

  2.過電流保護(hù)

  由于半導(dǎo)體器件體積小、熱容量小,特別是晶閘管等高壓大電流功率器件,bixu嚴(yán)格控制結(jié)溫,否則會(huì)損壞。當(dāng)大于額定值的電流流過晶閘管時(shí),熱量來不及散發(fā),使得結(jié)溫迅速升高,zui終會(huì)造成結(jié)層燒壞。

  過流的原因是多方面的,比如變流裝置本身的晶閘管損壞,觸發(fā)電路失靈,控制系統(tǒng)失靈,交流電源電壓過高、過低或異相,負(fù)載過載或短路,相鄰設(shè)備失靈等。


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